ISO 16700-2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南

作者:标准资料网时间:2024-05-05 06:13:52 浏览:9984 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Microbeamanalysis-Scanningelectronmicroscopy-Guidelinesforcalibratingimagemagnification
【原文标准名称】:微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
【标准号】:ISO16700-2004
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2004-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC202
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:微量分析;图像;扫描电子显微镜;电子显微镜;光谱学;放大;放大因数;分析方法;分析方法;校正;定义;分析;图像制造;电子束
【英文主题词】:Analysis;Analysismethods;Calibration;Definitions;Electronbeams;Electronmicroscopes;Imageproduction;Images;Magnification;Magnificationfactor;Methodsofanalysis;Microanalysis;Scanningelectronmicroscopes;Spectroscopy
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiesamethodforcalibratingthemagnificationofimagesgeneratedbyascanningelectronmicroscope(SEM)usinganappropriatereferencematerial.Thismethodislimitedtomagnificationsdeterminedbytheavailablesizerangeofstructuresinthecalibratingreferencematerial.ThisInternationalStandarddoesnotapplytothededicatedcriticaldimensionmeasurementSEM.
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: NF C79-151-2004 机械的安全.电敏保护设备.第1部分:一般要求和试验
下一篇: ISO 10303-523-2004 工业自动化系统和集成.产品数据表示和交换.第523部分:应用说明编制:弧线后掠的固体

标准名称：	大型组合弯曲模件下模
中标分类：
ICS分类：	机械制造 >> 无屑加工设备 >> 模制设备和铸造设备
发布日期：	1993-03-30
实施日期：	1991-08-01
首发日期：
作废日期：
出版日期：
页数：	3页