DIN EN 60749-12-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:变频振动

作者:标准资料网时间:2024-05-18 06:33:19 浏览:9008 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part12:Vibration,variablefrequency(IEC60749-12:2002);GermanversionEN60749-12:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:变频振动
【标准号】:DINEN60749-12-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;机械试验;电学测量;电子设备及元件;破坏试验;环境试验;半导体器件;振动;集成电路;气候试验;试验;气候;半导体;元部件;电气工程
【英文主题词】:
【摘要】:Thedocumentdescribesatesttodeterminetheeffectofvariablefrequencyvibration,withinthespecifiedfrequencyrange,oninternalstructuralelements.Thisisadestructivetest.Itisnormallyapplicabletocavity-typepackages
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P;A4
【正文语种】:德语

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